平成23年度(2011) 秋期 問23 | 情報処理技術者試験 応用情報技術者
LSIの故障メカニズムの一つであるESD(Electrostatic Discharge)破壊の説明として，適切なものはどれか。
選択肢 ア
機械的な力によって，配線が切断されてしまう現象
選択肢 イ
寄生サイリスタの導通によって，半導体素子が破壊されてしまう現象
選択肢 ウ
静電気放電によって，半導体素子が破壊されてしまう現象
選択肢 エ
電流が過度に流れることによって，配線が切断されてしまう現象
[出典：情報処理技術者試験 応用情報技術者 平成23年度(2011) 秋期 問23]
解答
正解
ウ
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