平成30年度(2018)春期問4 | 情報処理技術者試験エンベデッドシステムスペシャリスト

前の問題次の問題

JTAG(IEEE 1149.1)の説明として,適切なものはどれか。

選択肢ア

組合せ回路のテスト生成方式

選択肢イ

テストプローブを用いた導通テストの方法

選択肢ウ

バウンダリスキャンテストの標準方式

選択肢エ

ビルトインセルフテストの方式

[出典：情報処理技術者試験エンベデッドシステムスペシャリスト平成30年度(2018)春期問4]

解答

正解

ウ

難易度

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